A radiográfiás módszerek ezüsthalogenid filmet vagy digitális detektorokat használnak az átvitt sugárzás intenzitásbeli különbségeinek rögzítésére, és kontrasztos fekete területet hoznak létre a filmen a hiba helyén. A legkisebb azonosítható hibaméretet a képminőség-mérő érzékenysége méri. Ez a módszer alkalmas hegesztési hibák (porozitás, ömlesztés hiánya) kimutatására, érzékenysége pozitívan korrelál az anyagcsillapítási együtthatóval és a hibavastagsággal.
Az ipari CT több-szögű vetítési adatok felhasználásával rekonstruálja a 3D struktúrákat, felülmúlva a hagyományos 2D képalkotás szuperpozíciós hatásának korlátait, és akár 0,1%-os sűrűségkülönbséget is elérhet. A berendezés tipikus paraméterei a következők:
450 kV általános-felhasználású típus: nagy öntvények vizsgálatára alkalmas
225 kV mikro-felbontású típus: elektronikus alkatrészek mikroszerkezeti elemzésére szolgál.
A Small{0}}angle scattering (SAS) a nanoméretű pórusok szórási szögeloszlását elemzi, hogy feloldja az anyagok mikroszerkezeti jellemzőit, és mikrorepedések esetén mikrométerig terjedő kimutatási pontosságot ér el. Ez a módszer támogatja mind a száraz, mind a nedves minták elemzését, és a neutronsugaras technológiával kombinálva kiterjeszthető a mikrométeres-szintű pórusanalízisre is.